Varios métodos simples para probar chips CI con un multímetro
① Detección sin conexión
Mida la resistencia directa e inversa entre cada pin del chip IC y el terminal de tierra. Compare los valores de resistencia medidos con los de un chip IC normal calificado para localizar con precisión los puntos de falla.
② Detección en línea
1) Método de detección de resistencia CC
El método de operación es consistente con la detección fuera de línea. Se deben observar las siguientes precauciones:
(a) Cortar el suministro de energía de la placa de circuito bajo prueba;
(b) Asegúrese de que el voltaje interno del multímetro no exceda los 6 V;
(c) Evite la interferencia de componentes de circuitos periféricos, como potenciómetros conectados al chip IC, durante la medición.
2) Método de medición del voltaje de funcionamiento de CC
Compare el voltaje CC medido de cada pin IC con el valor de voltaje normal estándar. Las precauciones relevantes son las siguientes:
(a) El multímetro debe tener una alta resistencia interna; un multímetro digital es la opción preferida;
(b) Ajuste todos los potenciómetros a la posición media antes de realizar la prueba;
(c) Tome medidas antideslizantes para las sondas de prueba. Se puede enfundar el núcleo de una válvula de bicicleta en la sonda de prueba, extendiéndose unos 5 mm más allá de la punta de la sonda;
(d) Si el voltaje medido no coincide con el valor estándar, analice exhaustivamente la influencia del voltaje anormal del pin en el funcionamiento del IC y los cambios de voltaje correspondientes de otros pines;
(e) los voltajes de las clavijas de los circuitos integrados se ven fácilmente afectados por fallas de los componentes periféricos, incluidas fugas eléctricas, cortocircuitos, circuitos abiertos y envejecimiento de los componentes;
(f) Cuando los pines individuales del IC muestren valores anormales, comience a solucionar el problema desde los pines con la desviación máxima. Primero verifique los componentes periféricos; si no se encuentra ningún fallo, el chip IC está dañado;
(g) Para placas de circuito con señales operativas dinámicas, los voltajes de los pines del IC varían con los cambios de señal. Las fluctuaciones anormales de voltaje indican una posible falla del chip IC;
(h) Para equipos que admiten múltiples modos de funcionamiento, los valores de voltaje de las clavijas del IC difieren en diferentes modos de funcionamiento.
3) Método de prueba de voltaje de funcionamiento de CA
Utilice un multímetro con un engranaje de dB para medir el voltaje de funcionamiento de CA aproximado del IC. Si el multímetro no está equipado con un engranaje de dB, conecte un capacitor de bloqueo de CC de 0,1 a 0,5 μF en serie con el cable de prueba positivo. Este método es aplicable a circuitos integrados que funcionan a bajas frecuencias. Dado que las señales medidas se ven afectadas por diferencias inherentes de frecuencia y forma de onda, todos los datos de prueba son aproximados y solo como referencia.
4) Método de medición de corriente total
Juzgue las condiciones de funcionamiento del IC midiendo la corriente total de suministro de energía. La mayoría de los circuitos internos de los circuitos integrados adoptan el modo de acoplamiento de CC. Cuando el IC está dañado (como una rotura de una unión PN o un circuito abierto), la etapa posterior del circuito se saturará o se cortará, lo que provocará un cambio en la corriente operativa total. Por lo tanto, la calidad del CI se puede juzgar detectando la corriente total. El valor actual se puede calcular midiendo la caída de voltaje a través de la resistencia del bucle en el circuito en línea.
