Las características de los microscopios de sonda de barrido

Nov 15, 2025

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Las características de los microscopios de sonda de barrido

 

Microscopio de sonda de barrido es un término general para varios microscopios de sonda nuevos (microscopio de fuerza atómica, microscopio de fuerza electrostática, microscopio de fuerza magnética, microscopio de conductividad iónica de barrido, microscopio electroquímico de barrido, etc.) desarrollados sobre la base del microscopio de efecto túnel. Es un instrumento de análisis de superficies desarrollado a nivel internacional en los últimos años.

 

El microscopio de sonda de barrido es el tercer tipo de microscopio que observa estructuras materiales a escala atómica, después de la microscopía iónica de campo y la microscopía electrónica de transmisión de alta-resolución. Tomando como ejemplo el microscopio de efecto túnel (STM), su resolución lateral es de 0,1 ~ 0,2 nm y su resolución de profundidad longitudinal es de 0,01 nm. Con dicha resolución se pueden observar claramente átomos o moléculas individuales distribuidas en la superficie de la muestra. Mientras tanto, los microscopios de sonda de barrido también se pueden utilizar para observación e investigación en aire, otros gases o entornos líquidos.

 

Los microscopios de sonda de barrido tienen características como resolución atómica, transporte atómico y nanomicrofabricación. Sin embargo, debido a los diferentes principios de funcionamiento de los distintos microscopios de barrido, la información de la superficie de la muestra reflejada por sus resultados es muy diferente. El microscopio de efecto túnel mide la información de distribución de electrones en la superficie de la muestra, con resolución a nivel atómico pero aún incapaz de obtener la verdadera estructura de la muestra. La microscopía atómica detecta la información de interacción entre átomos, obteniendo así la información de disposición de la distribución atómica en la superficie de la muestra, que es la verdadera estructura de la muestra. Por otro lado, la microscopía de fuerza atómica no puede medir información del estado electrónico que pueda compararse con la teoría, por lo que ambas tienen sus propias fortalezas y debilidades.

 

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