Diez técnicas para el diagnóstico de fallas de multímetros e instrumentos
1. Método de tocar y presionar
Los fallos de funcionamiento intermitentes se deben principalmente a un contacto deficiente o a juntas de soldadura en frío. Golpee ligeramente las placas de circuito y los componentes con un martillo de goma para comprobar si hay errores o paradas. Cuando se produzcan fallas, apague y presione firmemente los conectores y enchufes, luego reinicie el dispositivo para su verificación. Vuelva a asentar todas las conexiones si el golpeteo provoca un funcionamiento inestable.
2. Método de inspección visual
Diagnosticar averías mediante la vista, el olfato y el tacto. Los componentes dañados pueden decolorarse, ampollarse o quemarse. Las piezas quemadas emiten olores peculiares, los chips en cortocircuito se calientan claramente y se pueden observar directamente juntas de soldadura frías o desprendidas.
3. Método de eliminación
Retire las placas enchufables internas y los componentes uno por uno para localizar fallas. El mal funcionamiento radica en la pieza que restablece el funcionamiento normal después de su extracción.
4. Método de reemplazo
Reemplace los componentes sospechosos con repuestos intactos de la misma especificación para verificar si las fallas desaparecen.
5. Método de comparación
Compare parámetros entre instrumentos idénticos normales y defectuosos con multímetros, osciloscopios y otras herramientas. Los elementos comparativos incluyen voltaje, forma de onda, impedancia estática, salida y corriente. Las desviaciones en las señales medidas indican posiciones defectuosas.
6. Método de ajuste de temperatura
Las fallas que ocurren a altas temperaturas generalmente son el resultado de un rendimiento deficiente de los chips y componentes a altas temperaturas. Enfríe las piezas sospechosas con alcohol anhidro para eliminar las fallas. Caliente adecuadamente las áreas sospechosas con una plancha eléctrica para inducir fallos de funcionamiento recurrentes y confirmarlos, evitando daños por calor excesivo.
7. Método de conexión en paralelo
Conecte un circuito integrado funcional o resistencias, condensadores, diodos y transistores calificados en paralelo a las contrapartes defectuosas. Este método funciona para circuitos internos abiertos y fallas de contactos defectuosos.
8. Método de derivación del condensador
Conecte los condensadores entre los pines de alimentación del IC y tierra, o la base del transistor y los terminales del colector. Juzgue las secciones de circuitos defectuosos según los cambios de fenómenos anormales como el trastorno de visualización.
9. Método de ajuste estatal
Marque las posiciones originales y registre los valores de voltaje o resistencia antes de ajustar potenciómetros y piezas ajustables. El ajuste adecuado de los parámetros puede eliminar fallas ocultas.
10. Método de aislamiento
Limite el alcance de la falla paso a paso siguiendo los diagramas de flujo de detección. Combínelo con comparación de señales e intercambio de componentes para identificar rápidamente fallas sin un equipo de referencia idéntico.
