¿Se debe elegir un microscopio vertical o un microscopio invertido?
Antes de responder a esta pregunta conviene tener claro cuál es la diferencia entre un microscopio vertical y un microscopio invertido:
El microscopio metalográfico, también conocido como microscopio de materiales, se utiliza principalmente para observar la estructura de la estructura metálica. Se puede dividir en microscopio metalográfico vertical y microscopio metalográfico invertido.
El microscopio metalográfico vertical produce una imagen positiva durante la observación, lo que aporta gran comodidad a la observación e identificación del usuario. Además de analizar e identificar muestras de metal con una altura de 20-30 mm, se utiliza más ampliamente para sustancias transparentes, semitransparentes u opacas debido a su conformidad con los hábitos humanos diarios. La observación de objetivos de más de 3 micrones pero menores de 20 micrones, como cerámicas metálicas, chips electrónicos, circuitos impresos, sustratos de LCD, películas, fibras, objetos granulares, recubrimientos y otros materiales, puede lograr buenos efectos de imagen para sus estructuras y trazas de superficie. Además, el sistema de cámara externa se puede conectar fácilmente a la pantalla de video y a la computadora para observar, guardar, editar e imprimir imágenes dinámicas y en tiempo real, y combinarlo con varios programas para satisfacer las necesidades de campos metalográficos, de medición y de enseñanza interactivos más profesionales. El microscopio metalográfico invertido utiliza imágenes del plano óptico para identificar y analizar la microestructura de varios metales y aleaciones. Es una herramienta importante para estudiar la metalografía en física de metales y puede usarse ampliamente en fábricas o laboratorios para la calidad de la fundición, la inspección de materias primas o la investigación y análisis de la estructura metalográfica del material después del tratamiento del proceso. Proporciona resultados de análisis intuitivos y es un equipo clave para la identificación y el análisis de la calidad de la fundición, la fundición y el tratamiento térmico en las industrias de minería, metalurgia, fabricación y procesamiento mecánico. En los últimos años, debido a la necesidad de tecnología de microscopía plana de gran aumento para respaldar la producción de chips en la industria microelectrónica, se han introducido y mejorado continuamente microscopios metalográficos para satisfacer las necesidades especiales de la industria. Microscopio metalográfico invertido, como la superficie de observación de la muestra coincide con la superficie de la mesa de trabajo, el objetivo de observación se ubica debajo de la mesa de trabajo y se observa hacia arriba. Esta forma de observación no está limitada por la altura de la muestra, es fácil de usar, tiene una estructura compacta del instrumento, una apariencia hermosa y generosa, y la base del microscopio metalográfico invertido tiene una gran área de soporte y un centro de gravedad bajo, que es seguro, estable y confiable. El ocular y la superficie de soporte están inclinados a 45 grados, lo que hace que la observación sea cómoda.
Además de la selección de configuración estándar, el microscopio metalográfico invertido ha mejorado su función de salida directa de imágenes a través de avances tecnológicos, lo que facilita la conexión a una computadora y la aplicación de software para el procesamiento inteligente de acuerdo con los requisitos del proceso. En pocas palabras, coloque la muestra vertical debajo y la muestra invertida arriba. La lente del objetivo vertical mira hacia abajo y la lente del objetivo invertida mira hacia arriba. Es decir, con la lente invertida debajo del escenario, coloque el bloque de prueba boca abajo en el escenario, con la lente hacia abajo y el bloque de prueba boca abajo, y observe la superficie de prueba de abajo hacia arriba.
La lente se coloca en posición vertical sobre el escenario, con el bloque de prueba mirando hacia arriba en el escenario. En este punto, la lente está arriba y el bloque de prueba se coloca en posición vertical. La lente observa la superficie de prueba de arriba a abajo.
