Selección de magnificación de microscopio estereoscópico para diferentes necesidades de observación
Cómo seleccionar la ampliación de observación de un estereomicroscopio para diferentes requisitos
Los estereomicroscopios se utilizan para la inspección y observación tridimensional de componentes electrónicos, placas de circuitos integrados, herramientas de torneado, imanes, etc. Dado que es necesario observar diferentes objetos con diferentes aumentos, ¿cómo podemos cumplir con estos diversos requisitos? Esto se puede lograr de varias maneras: a. por rendimiento óptico; b. seleccionando videoobservación; do. por desempeño mecánico; d. por iluminación de fuente de luz.
Rendimiento óptico: De acuerdo con los requisitos de observación del espécimen, se seleccionan diferentes oculares y lentes de objetivo para equilibrar un alto aumento y un gran campo de visión. Cuando se requiere un gran aumento, se pueden reemplazar los oculares y lentes de objetivo de alta potencia. Cuando se necesite un campo de visión amplio, reemplace la lente del objetivo y utilice un ocular de campo amplio o de baja potencia para cumplir con el requisito.
Vídeo de observación: Cuando el aumento óptico es insuficiente, se puede utilizar un aumento electrónico para compensar. Si se necesita observación en tiempo real y almacenamiento de imágenes, se encuentra disponible la observación por video. Hay varios modos de vídeo: A. visualización directa en un monitor; B. conexión a una computadora (a través de una tarjeta de captura de imágenes CCD digital o CCD analógica); C. conexión a una cámara digital (diferentes cámaras digitales requieren consideración de compatibilidad de interfaz y rendimiento coincidente con el microscopio estereoscópico).
Rendimiento mecánico: Para escenarios como soldadura, ensamblaje, inspección de placas de circuito integrado grandes y aplicaciones que requieren una distancia de trabajo específica, los requisitos se pueden satisfacer mediante configuraciones mecánicas, como soportes universales, marcos de soporte, plataformas móviles grandes, etc. Con estas características, las muestras grandes se pueden inspeccionar directamente ajustando el marco de soporte y la plataforma sin mover el objeto de prueba. Ejemplo: la empresa A necesita una observación inclinada fina para placas de circuito relativamente grandes. Es difícil mover la placa de circuito, por lo que la inspección debe completarse mediante ajuste mecánico. Un soporte universal puede satisfacer plenamente dichos requisitos de uso.
