Operación y solución de problemas de microscopios de proyección de perfiles
Cómo adaptar la ampliación de los microscopios de proyección de medición a diferentes requisitos de observación
Los microscopios de proyección de medición se utilizan para la inspección y observación tridimensional de componentes electrónicos, placas de circuitos integrados, herramientas rotativas, imanes y otras piezas de trabajo. Dado que diferentes objetos requieren observación con diferentes aumentos, estos diversos requisitos pueden satisfacerse de varias maneras: a. rendimiento óptico, b. observación por vídeo, c. diseño mecánico, d. iluminación.
Rendimiento óptico: De acuerdo con los requisitos de observación del objeto medido, problemas como un gran aumento y un gran campo de visión se pueden resolver seleccionando diferentes oculares y objetivos. Si sólo se necesita un gran aumento, se pueden reemplazar los oculares y objetivos de mayor aumento. Para obtener un campo de visión más amplio, se puede cambiar el objetivo, reducir el aumento del ocular o utilizar oculares de campo amplio para satisfacer la demanda.
Observación por vídeo: cuando el aumento óptico es insuficiente, se puede utilizar un aumento electrónico para compensar. También se recomienda la observación por vídeo si se necesita visualización en tiempo real y almacenamiento de datos. Existen múltiples soluciones de vídeo: A. conexión directa a un monitor; B. conexión a una computadora a través de una tarjeta de captura de imágenes CCD digital o CCD analógica; C. conexión a una cámara digital (para diferentes cámaras, se debe considerar la compatibilidad de la interfaz y la coincidencia con el microscopio).
Rendimiento mecánico: en aplicaciones como soldadura, ensamblaje, inspección de grandes placas de circuito integrado y escenarios que requieren distancias de trabajo específicas, se pueden adoptar soluciones mecánicas, como soportes universales, soportes de balancines y grandes plataformas móviles. Gracias a sus características estructurales, se pueden inspeccionar objetos de gran tamaño directamente utilizando estos soportes y plataformas sin mover la pieza de trabajo. Por ejemplo, una empresa necesita inspeccionar placas de circuito relativamente grandes que requieren una fina observación oblicua; Dado que las tablas son difíciles de mover, la inspección sólo puede realizarse mediante movimiento mecánico, que puede realizarse plenamente utilizando un soporte universal.
Iluminación: La iluminación juega un papel fundamental en la observación clara del objeto medido. Al seleccionar la iluminación, se deben elegir los dispositivos y métodos de iluminación adecuados en función de las características del objeto (incluida la intensidad de la luz, la reflectividad y otros requisitos). Si la iluminación estándar transmitida y oblicua de los microscopios de proyección de medición general no puede satisfacer sus necesidades, también ofrecemos fuentes de luz fría LED, luces anulares, lámparas de luz fría de fibra simple o doble y otras opciones.
