Operación y solución de problemas de microscopios
1. Mida el aumento del microscopio del proyector y observe cómo adaptarse a diferentes requisitos.
El microscopio de proyección de medición se utiliza para la inspección y observación tridimensional-de componentes electrónicos, placas de circuitos integrados, herramientas de corte rotativas, imanes, etc. ¿Cómo adaptarse a estos diferentes requisitos basándose en el hecho de que estos diferentes objetos deben observarse con diferentes aumentos? Se puede solucionar a través de múltiples aspectos. a. Se puede lograr mediante el rendimiento óptico. b. Se puede seleccionar para observación por video. do. Se puede lograr mediante el rendimiento mecánico. d. Puede iluminarse con una fuente de luz.
Rendimiento óptico: según los requisitos de observación del objeto medido, se seleccionan diferentes oculares/objetivos para resolver problemas como gran aumento y gran campo de visión. Cuando sólo se requiere un gran aumento, se puede lograr reemplazando el ocular de gran aumento y la lente del objetivo. Cuando se requiere un gran campo de visión, se puede lograr reemplazando la lente del objetivo, reduciendo el ocular o reemplazando el ocular de gran campo de visión.
Observación por vídeo: cuando el aumento óptico es insuficiente, se puede utilizar un aumento electrónico como compensación. A la hora de observar y querer almacenar y conservar simultáneamente, podemos elegir vídeos. Hay varios formatos de vídeo: A. Se puede acceder directamente a través de un monitor B. Se puede conectar a una computadora (a través de una tarjeta de adquisición de imágenes CCD digital o CCD analógica) C. Se puede conectar a una cámara digital (diferentes cámaras digitales deben considerar diferentes interfaces y compatibilidad con el microscopio)
Rendimiento mecánico: cuando nos encontramos con soldadura, ensamblaje, inspección de grandes placas de circuito integrado y requisitos de distancia de trabajo, podemos resolverlos a través del rendimiento mecánico, como soportes universales, soportes de balancines, grandes plataformas móviles, etc. Con sus características de rendimiento, podemos completar directamente nuestro trabajo de detección utilizando soportes y plataformas al detectar objetos grandes. No es necesario mover nuestro objeto probado. Por ejemplo, a la empresa A le resultó difícil mover la placa de circuito debido a su gran tamaño y a la necesidad de observar una ligera inclinación. Por lo tanto, el trabajo de inspección sólo podría completarse mediante movimiento mecánico, y el uso de soportes universales podría cumplir estos requisitos de uso simultáneamente.
Iluminación de la fuente de luz: La iluminación de la fuente de luz juega un papel crucial a la hora de ver claramente el objeto medido. Al seleccionar la iluminación, es necesario elegir la herramienta de iluminación y el método de iluminación correspondientes en función de las características del propio objeto medido (teniendo en cuenta sus requisitos de luz, como fuerte/débil/reflectante, etc.). Si la transmisión del microscopio proyector no puede satisfacer sus necesidades de iluminación con iluminación oblicua, también hemos preparado luces LED con fuente de luz fría, luces circulares, luces con fuente de luz fría de fibra simple/doble, etc.
