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Introducción al sistema de enfoque de la serie de medición de herramientas de microscopio

Oct 24, 2026

Introducción al sistema de enfoque de la serie de medición de herramientas de microscopio

 

La serie de herramientas de microscopios de medición incorpora un sistema de enfoque altamente eficiente para mediciones repetidas, lo que permite operaciones de enfoque rápidas y altamente precisas. Hoy, proporcionaremos una descripción general de este sistema.

La serie de herramientas para microscopios de medición integra alta rigidez, alta precisión y alta eficiencia en su sistema de enfoque y admite un módulo de enfoque cargable. Al utilizar este sistema, incluso las tareas de medición complejas se pueden completar de manera eficiente mediante el enfoque continuo yenfoque automático (AF)operaciones, mejorando así significativamente la eficiencia de medición del eje Z y reduciendo la carga de trabajo del operador. El ingenioso diseño del portaherramientas es otra característica notable de esta serie.

 

La serie de herramientas de microscopios de medición ofrece dos modos de enfoque: enfoque manual y AF. En el modo de enfoque aproximado, la muestra puede moverse rápidamente al área central del campo de visión. En el modo de seguimiento AF, el enfoque se puede mantener siguiendo la superficie de la muestra y, dado que la imagen permanece enfocada en todo momento, la eficiencia del trabajo mejora considerablemente.

 

El AF es particularmente eficaz para objetivos de alta magnitud, ya que logra AF dentro de un área muy pequeña y ofrece una reproducibilidad de hasta 1 μm. El

El sistema AF utiliza un método de luz proyectada y puede encontrar la posición de enfoque incluso en superficies de muestra irregulares. Además, admite observación objetiva de 100×, con un diámetro de punto láser de menos de 1 μm, lo que permite un ajuste fino del eje Z dentro de un área pequeña, y se utiliza para marcar puntos de enfoque láser en la industria de semiconductores.

 

La serie de herramientas de microscopios de medición ayuda a enfocar a través de un sistema AF y ajusta la desviación posicional indicada para lograr resultados de medición de alta precisión. Puede cambiar libremente entre los espejos intermedios y adopta una fuente de luz LED de ajuste continuo. El panel táctil de control es fácil de usar y de operar.

 

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