Métodos de obtención de imágenes de campo-claro y campo oscuro-en microscopía de fluorescencia
(1) Método de imágenes de campo brillante (BFI), que solo permite que el haz de electrones transmitido en la región paraxial pase a través de la apertura del objetivo, formando una imagen oscura sobre un fondo brillante. Cuanto menor sea la apertura del objetivo, mayor será el contraste de la imagen del campo brillante; (2) La imagen de campo oscuro (DFI) es una técnica que permite que solo una parte del haz disperso de gran ángulo o un cierto haz de difracción del cristal pase a través de la apertura del objetivo, mientras bloquea el haz transmitido. Esto forma una imagen gráfica brillante sobre un fondo oscuro. Este método de obtención de imágenes de campo oscuro puede mejorar el contraste de las imágenes y es una técnica de obtención de imágenes importante.
Existen aproximadamente cuatro métodos para lograr imágenes de campo oscuro utilizando microscopios de fluorescencia Leica: (1) mantener la iluminación vertical a lo largo del eje óptico mientras se mueve la apertura del objetivo; (2) El uso de iluminación oblicua para capturar haces dispersos en la dirección del eje óptico se denomina Central Dark Field Imaging (CDFI); (3) Una apertura de objetivo con un tope de haz central y un área transparente circular; (4) Utilice una lente condensadora circular transparente para detectar la luz y una apertura circular central para la lente objetivo. El método * aquí es el más simple, pero utiliza imágenes electrónicas en el área distal de la manga, por lo que la aberración es grande y la calidad de la imagen no es muy buena. El segundo método puede evitar los inconvenientes anteriores, pero la apertura del objetivo del microscopio de fluorescencia Leica sólo recibe una pequeña porción de electrones difractados dispersos, lo que resulta en una menor eficiencia. El lado de la apertura suele estar sujeto a una gran cantidad de bombardeo de electrones, lo que fácilmente puede provocar contaminación asimétrica y afectar la calidad de la imagen. La lente objetivo anular se ha mejorado en este aspecto, pero la desventaja es que es difícil de producir y es difícil lograr una simetría axial completa. Dados los requisitos relativamente relajados para el sistema de iluminación, se puede adoptar la última solución, que implica agregar una abertura anular en el condensador para proporcionar iluminación de haz hueco para la muestra. El efecto de este dispositivo. Su resolución de imagen puede acercarse a la de las imágenes de campo brillante, mientras que el contraste mejora enormemente.
