Cómo ajustar la ampliación de un microscopio estereoscópico para cumplir con diferentes requisitos
Los estereomicroscopios se utilizan para la inspección y examen estereoscópico de componentes electrónicos, circuitos integrados, herramientas de torneado, imanes y otros elementos. Dado que estos especímenes deben observarse en diferentes condiciones de aumento, ¿cómo podemos adaptarnos a estos diversos requisitos? Esto se puede lograr mediante varios enfoques: a. Selección de rendimiento óptico; b. Observación por vídeo; do. Selección de desempeño mecánico; d. Iluminación de fuente de luz.
Rendimiento óptico: De acuerdo con los requisitos de observación de la muestra, se seleccionan diferentes oculares y lentes objetivos para ajustar el aumento y el campo de visión. Para un gran aumento, reemplace los oculares y las lentes del objetivo por otros que ofrezcan un mayor aumento. Para obtener un campo de visión más amplio, cambie a objetivos de menor aumento o reduzca el aumento de los oculares.
Vídeo de observación: Cuando el aumento óptico es insuficiente, se puede utilizar un aumento electrónico para compensar. Si se requiere observación y grabación simultáneas, la captura de video está disponible. Se admiten múltiples modos de vídeo: A. Visualización directa a través de un monitor; B. Conexión a una computadora (a través de una tarjeta de captura de imágenes CCD digital o CCD analógica); C. Conexión a una cámara digital (se debe considerar la compatibilidad de las interfaces y el microscopio para diferentes modelos de cámara).
Rendimiento mecánico: Para aplicaciones como inspección de soldadura, inspección de placas de circuitos grandes o tareas que requieren una gran distancia de trabajo, se pueden utilizar accesorios mecánicos adecuados, incluidos soportes, soportes y etapas de traslación grandes. Aprovechando sus características de rendimiento, las muestras grandes se pueden inspeccionar directamente con el soporte y la platina, sin mover la muestra misma. Por ejemplo: la empresa A necesita una observación inclinada de placas de circuito relativamente grandes y mover la placa de circuito es difícil. La inspección se completa ajustando el movimiento mecánico y la orientación del soporte se ajusta para satisfacer dichos requisitos de observación.
Iluminación de fuente de luz: Es fundamental que la fuente de luz sea adecuada para obtener imágenes claras de la muestra. Al seleccionar la iluminación, se deben considerar las características del propio espécimen, incluidos sus requisitos de iluminación, como brillo, oscuridad y reflexión, para elegir el equipo y el método de iluminación adecuados. La iluminación incorporada estándar de los microscopios estereoscópicos comunes puede no cumplir con ciertas demandas de iluminación. Para tales casos, se encuentran disponibles fuentes de luz fría LED opcionales, luces anulares, luces coaxiales, fuentes de luz de fibra óptica de doble rama y otras opciones de iluminación.
