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Métodos comunes para probar componentes electrónicos con un multímetro

Sep 06, 2026

Métodos comunes para probar componentes electrónicos con un multímetro

 

① Prueba de resistencia Las resistencias SMT generalmente están impresas con códigos de marcado de valor de resistencia, por ejemplo, . 103 (10 kΩ), 102 (1 kΩ). Pruebe con el rango de resistencia del multímetro y compare la lectura medida con el valor marcado para juzgar si el componente es normal.

 

② Prueba de capacitancia Muchos multímetros digitales están equipados con un rango de prueba de capacitancia. Primero haga un cortocircuito y descargue el capacitor, cambie al rango de prueba de capacitancia, luego conecte el capacitor bajo prueba a los dos terminales dedicados de medición de capacitancia y lea el valor de capacitancia. Sólo para un juicio aproximado de ir-no-ir, utilice la resistencia o el rango del zumbador. Un condensador normal muestra una resistencia infinita, o la resistencia aumenta gradualmente hacia el infinito.

 

③ Prueba de diodo Según la propiedad de conductividad unidireccional de los diodos, utilice el rango de diodo-zumbador. Conecte las sondas roja y negra de forma arbitraria. Si se produce conducción (se muestra un valor numérico), la sonda roja toca el ánodo del diodo y la sonda negra toca el cátodo. Cuando se invierten las dos sondas, no se mostrará ninguna lectura (igual que el estado de prueba inactiva). Dos de estas mediciones confirman que el diodo es normal; de lo contrario está defectuoso.

 

④ Prueba de inductancia Algunos multímetros tienen un rango de prueba de inductancia para medir la inductancia, con procedimientos similares a la medición de capacitancia. Si la medición de inductancia no está disponible, use el zumbador o el rango de resistencia solo para verificar si hay fallas de circuito abierto. Un inductor sano activará el timbre. Con este método no se pueden identificar fallos de cortocircuito de inductores. Para realizar pruebas precisas se deben utilizar medidores de capacitancia-inductancia especiales o, preferiblemente, un medidor LCR.

 

⑤ Prueba de transistores La estructura interna de un transistor es similar a la de un diodo y su método de evaluación es comparable a la prueba de diodos.

 

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