¿Cuáles son los dos componentes principales de la fuerza atómica detectada por el microscopio de fuerza atómica?
Hay varias fuerzas entre la sonda AFM y los átomos de la superficie de la muestra, incluida la fuerza de van der Waals, la fuerza repulsiva, la fuerza electrostática, la fuerza de deformación, la fuerza magnética, la fuerza química, etc. Cuando se utiliza el microscopio de fuerza atómica, la influencia de se eliminarán la fuerza de van der Waals y la fuerza de repulsión; además, además de las dos fuerzas anteriores, las otras fuerzas en sí son relativamente pequeñas.
Por lo tanto, la fuerza atómica detectada por el microscopio de fuerza atómica se compone principalmente de fuerza de van der Waals y fuerza de repulsión. Entre ellos, la fuerza de van der Waals es la atracción, y la esencia de la fuerza de repulsión es la interacción entre los átomos y las nubes de electrones, que en esencia es un efecto cuántico.
