Tipos y características de los microscopios electrónicos de barrido
Existen varios tipos de microscopios electrónicos de barrido, y los diferentes tipos de microscopios electrónicos de barrido tienen diferencias de rendimiento. Según el tipo de pistola de electrones, se puede dividir en tres tipos: pistola de electrones de emisión de campo, pistola de alambre de tungsteno y hexaboruro de lantano. Entre ellos, la microscopía electrónica de barrido de emisión de campo se puede dividir en microscopía electrónica de barrido de emisión de campo en frío y microscopía electrónica de barrido de emisión de campo caliente en función del rendimiento de la fuente de luz. La microscopía electrónica de barrido de emisión de campo frío requiere condiciones de altas al vacío, corriente de haz inestable, vida útil del emisor corto y requiere una limpieza regular de la punta de la aguja, que se limita a la observación de una imagen única y tiene un rango de aplicación limitado; El microscopio electrónico de barrido de emisión de campo térmico no solo tiene un largo tiempo de trabajo continuo, sino que también se puede combinar con varios accesorios para lograr un análisis exhaustivo. En el campo de la geología, no solo necesitamos observar la morfología preliminar de las muestras, sino que también necesitamos analizar otras propiedades de las muestras en combinación con analizadores, por lo que la aplicación de microscopía electrónica de exploración de emisión de campo térmico es más extensa.
Aunque la microscopía electrónica de barrido es un recién llegado en la familia del microscopio, su velocidad de desarrollo es muy rápida debido a sus muchas ventajas.
El instrumento tiene una alta resolución y puede observar detalles de aproximadamente 6 nm en la superficie de la muestra a través de imágenes de electrones secundarios. Al usar una pistola de electrones LAB6, se puede mejorar aún más a 3 nm.
El instrumento tiene una amplia gama de cambios de aumento y se puede ajustar continuamente. Por lo tanto, se pueden seleccionar diferentes tamaños de campos de visión para la observación según sea necesario, y también se pueden obtener imágenes claras con un alto brillo que son difíciles de lograr con la microscopía electrónica de transmisión general a un gran aumento.
La profundidad de campo y el campo de visión de la muestra son grandes, y la imagen es rica en sentido tridimensional. Puede observar directamente superficies rugosas con grandes ondulaciones e imágenes desiguales de fractura de metal de la muestra, dando a las personas la sensación de estar presente en el mundo microscópico.
La preparación de las 4 muestras es simple. Mientras las muestras de bloque o polvo se traten o no se traten ligeramente, se pueden observar directamente bajo un microscopio electrónico de barrido, que está más cerca del estado natural de la sustancia.
5. La calidad de la imagen se puede controlar y mejorar de manera efectiva a través de métodos electrónicos, como el mantenimiento automático del brillo y el contraste, la corrección del ángulo de inclinación de la muestra, la rotación de imágenes o la mejora de la tolerancia al contraste de imagen a través de la modulación y, así como el brillo y la oscuridad moderados en varias partes de la imagen. Mediante el uso de un dispositivo de aumento dual o selector de imágenes, las imágenes con diferentes magnificaciones se pueden observar simultáneamente en la pantalla fluorescente.
6 puede ser sometido a análisis exhaustivo. Instale un espectrómetro de rayos X dispersivo de longitud de onda (WDX) o un espectrómetro de rayos X dispersivo de energía (EDX) para permitirle funcionar como una sonda de electrones y detectar electrones reflejados, rayos X, catodoluminiscencia, electrones transmitidos, electrones de sinfín, etc. emitidos por la muestra. Expandir la aplicación de microscopía electrónica de barrido a varios métodos de análisis microscópicos y micro área ha demostrado la multifuncionalidad de la microscopía electrónica de barrido. Además, también es posible analizar las micro áreas seleccionadas de la muestra mientras observa la imagen de la morfología; Al instalar el accesorio del soporte de muestra de semiconductores, las uniones PN y los micro defectos en transistores o circuitos integrados se pueden observar directamente a través de un amplificador de imagen de fuerza electromotriz. Debido a la implementación de un control automático y semiautomático de la computadora electrónica para muchas sondas de electrones de microscopio electrónico de barrido, la velocidad del análisis cuantitativo ha mejorado considerablemente.
