La diferencia entre el microscopio de fuerza atómica y el microscopio óptico y el microscopio electrónico.
La principal diferencia entre AFM y las tecnologías de la competencia, como la microscopía óptica y electrónica, es que AFM no utiliza lentes ni haces de luz. Por lo tanto, no está limitado por la resolución espacial debido a la difracción y las aberraciones y no requiere la preparación del espacio para dirigir el haz (creando un vacío) y teñir la muestra.
Hay varios tipos de microscopios de barrido, incluyendo microscopía de sonda de barrido (incluyendo AFM, microscopía de túnel de barrido (STM) y microscopía óptica de barrido de campo cercano (SNOM/NSOM), microscopía STED (STED), así como microscopía electrónica de barrido y microscopía atómica electroquímica microscopía de fuerza EC-AFM). Aunque SNOM y STED iluminan muestras con luz visible, infrarroja e incluso con terahercios, su resolución no está limitada por el límite de difracción.
