Microscopios STED y de inmersión con foco profundo
El enfoque profundo de los objetivos de NA alta produce una PSF (función de dispersión de puntos) más pequeña, que es fundamental para los sistemas de microscopía de alta resolución. En muchos otros sistemas de microscopio, como los microscopios de inmersión, se utiliza un cubreobjetos para separar el líquido de inmersión de la muestra. Esto puede distorsionar la PSF en el plano focal. Demostramos que el PSF asimétrico se alarga aún más detrás del cubreobjetos. Además, la microscopía STED (Stimulated Emission Depletion), que se usa ampliamente con resoluciones de decenas de nanómetros, consume un PSF toroidal. Siguiendo el enfoque propuesto por P.Török y PRT Monro, modelamos el enfoque profundo de un haz de Gauss-Raggler. Muestra cómo generar un PSF circular.
Enfoque profundo con microscopía de inmersión de NA alta
En VirtualLab Fusion, la influencia de la interfaz de cubreobjetos en PSF se puede analizar directamente. La distorsión focal detrás del cubreobjetos se demuestra y analiza de forma totalmente vectorial.
Enfoque de haces de Gauss-Laguerre en microscopio STED
Se demostró que el enfoque de haces de Gaussian-Laguerre de alto orden produce una PSF en forma de anillo. El tamaño del PSF anular depende, entre otras variables, del orden particular del haz.
