Resuelva problemas de EMI en dominios de tiempo y frecuencia utilizando osciloscopios digitales RTO
Los osciloscopios digitales RTO pueden ayudar a los ingenieros de desarrollo a analizar problemas de EMI en el dominio del tiempo y de la frecuencia al diseñar productos electrónicos, y pueden ayudar a localizar las causas de la EMI. El osciloscopio digital RTO tiene un ruido de entrada extremadamente bajo y su sensibilidad puede alcanzar 1 mv/div dentro del rango de ancho de banda completo de 0-4 GHz. La capacidad de análisis de espectro FFT en tiempo real de RTO se puede utilizar con análisis de sonda de campo cercano para diagnosticar problemas de EMI.
Fig: Osciloscopio digital R&S RTO: FFT frontal de bajo ruido y alto rendimiento crea una potente herramienta de diagnóstico EMI
La clave para el diagnóstico EMI es la tecnología FFT. Con la función FFT de los osciloscopios tradicionales, es difícil establecer parámetros en el dominio de la frecuencia y el análisis del espectro lleva mucho tiempo. Dado que la interfaz operativa FFT del osciloscopio R&S RTO se basa en un analizador de espectro, los usuarios pueden configurar parámetros directamente, incluida la frecuencia de inicio, la frecuencia de corte, la resolución del ancho de banda y el tipo de detector, como si se utilizara un analizador de espectro.
La potente tecnología FFT combinada con la gran profundidad de memoria del osciloscopio RTO permite a los usuarios establecer de forma independiente parámetros en el dominio del tiempo y en el dominio de la frecuencia y realizar análisis de manera flexible en el dominio del tiempo y en el dominio de la frecuencia. Estas funciones permiten a los usuarios detectar fuentes de interferencia radiada lo más rápido posible.
El osciloscopio R&S RTO utiliza Overlap FFT para el análisis en el dominio de la frecuencia. La tecnología FFT superpuesta puede lograr una alta sensibilidad a la radiación espuria y capturar puntos de frecuencia espurios ocasionales. El osciloscopio primero divide la señal capturada en el dominio del tiempo en varios segmentos de tiempo y luego realiza cálculos FFT para obtener el espectro de cada segmento de tiempo, de modo que se puedan capturar señales espurias ocasionales de baja energía en el espectro.
Luego, las señales con diferentes frecuencias se marcan con diferentes colores y el espectro de análisis FFT de todos los períodos de tiempo se combina en un espectro completo.
La radiación y la radiación incidental están marcadas con diferentes colores. El análisis del espectro utilizando diferentes técnicas de marcado de colores puede demostrar perfectamente el tipo y la frecuencia de la radiación EMI.
La tecnología FFT en ventana permite a los usuarios personalizar una ventana de tiempo en la señal capturada, realizar análisis FFT solo en la señal dentro de la ventana de tiempo y analizar la relación correspondiente entre cada señal en el dominio del tiempo y el espectro deslizando esta ventana. Por ejemplo, esta técnica se puede utilizar para analizar problemas de EMI causados por un exceso de transistor en fuentes de alimentación conmutadas. Después de confirmar el punto del problema, el usuario puede verificar rápidamente el efecto de la rectificación.
Las herramientas de plantilla también son muy efectivas al analizar problemas de radiación parásita. Los usuarios definen plantillas en el dominio de la frecuencia y realizan los ajustes correspondientes para las señales infractoras, de modo que puedan determinar con precisión qué señales causan violaciones del espectro. Incluso para las señales que han sido capturadas, los usuarios pueden ajustar los parámetros FFT, como el tamaño de la ventana y la resolución de frecuencia. Funciones tan poderosas permiten a los usuarios realizar análisis cuidadosos de la radiación EMI que es difícil de capturar.
El osciloscopio R&S RTO establece un nuevo punto de referencia para los osciloscopios con sus ricas funciones de adquisición y análisis. Al mismo tiempo, combinado con una amplia gama de accesorios, como la sonda de campo cercano R&S HZ-15, proporciona un conjunto completo de soluciones de diagnóstico EMI.
