Intercambio de tecnología SEM para microscopía electrónica de barrido
Principio del análisis SEM mediante microscopía electrónica de barrido: utilizar tecnología electrónica para detectar electrones secundarios, electrones retrodispersados, electrones absorbidos, rayos X, etc. generados durante la interacción entre haces de electrones de alta energía y muestras, y amplificarlos en imágenes.
Los métodos de representación de los espectrogramas incluyen imágenes retrodispersadas, imágenes de electrones secundarios, imágenes de corriente de absorción, distribuciones lineales y superficiales de elementos, etc.
Información proporcionada: morfología de la fractura, microestructura de la superficie, microestructura del interior de la película, análisis de elementos de microzona y análisis cuantitativo de elementos, etc.
Ámbito de aplicación de la microscopía electrónica de barrido (SEM):
1. Análisis de la morfología de la superficie del material y observación de la morfología de microáreas.
2. Análisis de diversas formas, tamaños, superficies, secciones transversales y distribución del tamaño de partículas de materiales.
3. Observación de la morfología de la superficie, análisis de rugosidad y espesor de varias muestras de películas delgadas.
Proyecto de pruebas SEM
1. Análisis de la morfología de la superficie del material y observación de la morfología de microáreas.
2. Análisis de diversas formas, tamaños, superficies, secciones transversales y distribución del tamaño de partículas de materiales.
3. Observación de la morfología de la superficie, análisis de rugosidad y espesor de varias muestras de películas delgadas.
La preparación de muestras de microscopía electrónica de barrido es más sencilla que la de muestras de microscopía electrónica de transmisión y no requiere incrustación ni seccionamiento.
Requisitos de muestra:
La muestra debe ser sólida; Cumplir con los requisitos de composición no tóxica, no radiactiva, no contaminante, no magnética, anhidra y estable.
Principio de preparación:
Las muestras con contaminación superficial deben limpiarse adecuadamente y luego secarse sin dañar la estructura superficial de la muestra;
Las fracturas o secciones transversales recién rotas generalmente no requieren tratamiento para evitar dañar la fractura o la superficie.
Estado estructural;
Se debe limpiar y secar la superficie o fractura de la muestra a erosionar;
Predesmagnetización de muestras magnéticas;
El tamaño de la muestra debe ser adecuado para el tamaño del portamuestras específico del instrumento.
Métodos comunes:
muestra a granel
Material conductor en bloque: no es necesario preparar la muestra; utilice adhesivo conductor para unir la muestra al soporte de muestra para observación directa.
Materiales en bloques no conductores (o mal conductores): primero, utilice el método de recubrimiento para tratar la muestra para evitar la acumulación de carga y afectar la calidad de la imagen.
