Varias características de la microscopía óptica confocal.
Alto contraste, alta resolución
En un microscopio óptico convencional, la interferencia se produce debido a la luz reflejada desde la parte desenfocada, que se superpone con la parte de imagen del punto focal, lo que resulta en una reducción del contraste de la imagen. Por el contrario, en un sistema óptico confocal, la luz dispersada fuera del punto focal y dentro de la lente del objetivo se elimina casi por completo, lo que da como resultado imágenes con un contraste muy alto. Además, el poder de resolución del microscopio mejora porque la luz pasa dos veces a través de la lente del objetivo, afinando la imagen puntual.
Función de localización óptica
En el sistema óptico confocal, la luz reflejada queda protegida por la microapertura en un punto distinto del focal. Por tanto, al observar una muestra tridimensional, la imagen se forma como si la muestra hubiera sido cortada con el punto focal, y este efecto se denomina localización óptica, que es una de las características del sistema óptico confocal.
Función de memoria de cambio de enfoque
La luz reflejada fuera del punto focal es bloqueada por la microvía, de modo que se puede considerar que todos los puntos de la imagen creada por el sistema óptico confocal coinciden con el punto focal. Moviendo la muestra estéreo en dirección al eje Z (eje óptico) y acumulando las imágenes en la memoria se obtiene una imagen en la que todos los puntos de la muestra coinciden con el punto focal. La función de profundizar indefinidamente la profundidad de enfoque de esta manera se llama función de memoria en movimiento.
Función de medición de la forma de la superficie
Al agregar un circuito de registro de la altura de la superficie a la función de cambio de enfoque, la forma de la superficie de una muestra se puede medir sin contacto. Con esta función, es posible registrar las coordenadas del eje Z del valor máximo de luminancia de cada píxel y obtener información sobre la forma de la superficie de la muestra en base a esta información.
Función de medición de microdimensiones de alta precisión
En la unidad receptora de luz se utiliza un sensor de imágenes CCD 1D, que permite una medición de alta precisión sin verse afectado por la inclinación de escaneo del escáner. Además, una función de memoria de cambio de enfoque con profundidad de enfoque ajustable (profundización) permite eliminar los errores de medición causados por el cambio de enfoque.
