Principios y métodos de micrometría confocal.
La microscopía confocal es la abreviatura de microscopio de barrido confocal láser LCSM, que toma imágenes microscópicamente utilizando principalmente técnicas de imágenes capturadas en 3D, lo que le otorga una alta resolución de imagen en 3D. Estos se logran mediante la construcción de micrografías.
Principios de la obtención de imágenes mediante microscopio confocal
El dispositivo de microscopio confocal se coloca en la superficie conjugada del plano focal del objeto a medir dos pequeños orificios, uno de los cuales se coloca frente a la fuente de luz y el otro frente al detector, la imagen obtenida es la luz de uno El plano focal se captura enfocando a través de una cámara digital estenopeica, y a través de la secuencia de imágenes de los diferentes planos focales que se han acumulado, se compila mediante un software una imagen 3D completa.
El sistema de microscopio confocal presenta imágenes ampliadas con mayor detalle que los microscopios ópticos convencionales. Al mismo aumento objetivo, el microscopio confocal presenta imágenes con detalles morfológicos más nítidos y finos y una mayor resolución lateral. Como herramienta para la detección micronano, la microscopía confocal se diferencia de la interferometría de luz blanca en muchos aspectos. Si usa una palabra para describirlo, entonces la interferometría de luz blanca es "literaria", mientras que la microscopía confocal es "marcial". La luz blanca es buena para la detección de superficies ultrasuaves subnanométricas, la búsqueda de la precisión del valor de detección; mientras que el confocal es bueno en la detección de contornos rugosos en micronanómetros, aunque la resolución es ligeramente inferior en la detección, pero puede proporcionar imágenes coloridas en colores reales para una fácil observación.
Microscopio confocal a tecnología confocal como principio, combinado con un módulo de escaneo Z de precisión, algoritmos de modelado 3D, etc., puede medir todo tipo de superficies, desde suaves hasta rugosas, de baja reflectividad a alta reflectividad, de nano a micras. Nivele la rugosidad de la pieza de trabajo, la planitud, los contornos microgeométricos, la curvatura y otros parámetros de una variedad de productos, componentes y materiales superficie de la superficie de los contornos de la superficie, defectos de la superficie, desgaste, condiciones de corrosión, medición y análisis de características de la superficie como la planitud , rugosidad, corrugación, limpieza de poros, altura del escalón, deformación por flexión, mecanizado y otras características de la superficie.
