Las nuevas técnicas de súper resolución, como la microscopía de agotamiento de emisión estimulada, la microscopía de localización fotoactivada y la microscopía de reconstrucción óptica estocástica, han reducido la resolución de 100 a 200 nm aún más.
Los posicionadores de objetivos piezoeléctricos de resolución nanométrica son ideales para estas aplicaciones. La alineación del microscopio y el portamuestras requiere movimientos precisos y rápidos. El posicionador de lente de objetivo piezoeléctrico basado en un mecanismo cerámico piezoeléctrico de alta resolución puede proporcionar un soporte técnico único de ultraprecisión.
El posicionador de lente de objetivo piezoeléctrico de la serie P72 está especialmente diseñado para aplicaciones de microscopio. Está diseñado con un mecanismo de guía paralela de bisagra flexible no histerético. No tiene fricción y tiene una resolución extremadamente alta, una pequeña cantidad de compensación y una estabilidad de enfoque ultra alta. Es muy adecuado para aplicaciones como ajuste de muestras, alineación de haces y seguimiento de haces.
Características: movimiento del eje Z, carrera de 100 μm, resolución de 2,5 nm, frecuencia armónica sin carga de 350 Hz, tiempo de paso sin carga de 3 ms.
Los posicionadores de lentes de objetivo piezoeléctricos de la serie P72 son de tamaño pequeño y estructura compacta, y pueden lograr un recorrido de desplazamiento de 100 μm. Está conectado a la parte superior de la lente a través de un adaptador de hilo, y el hilo se puede seleccionar arbitrariamente. Se puede adaptar a una variedad de lentes estándar como Olympus, Zeiss, Nikon y Leica, y se puede personalizar.
La frecuencia de resonancia sin carga puede alcanzar los 350 Hz y puede transportar una carga de 200 g para un movimiento de precisión de alta velocidad, que se ha utilizado ampliamente en el escaneo óptico, la microscopía confocal y otros campos.
