Introducción a las funciones del microscopio electrónico de barrido
El microscopio electrónico de barrido (SEM) es un instrumento de gran precisión que se utiliza para el análisis de morfología de microáreas de alta resolución. Tiene las características de gran profundidad de campo, alta resolución, imágenes intuitivas, fuerte sentido de tridimensionalidad, amplio rango de aumento y la capacidad de rotar e inclinar la muestra de prueba en un espacio tridimensional. Además, tiene las ventajas de una amplia variedad de tipos de muestras medibles, casi ningún daño o contaminación a la muestra original y la capacidad de obtener simultáneamente morfología, estructura, composición e información cristalográfica. En la actualidad, la microscopía electrónica de barrido se ha utilizado ampliamente en la investigación microscópica en campos como las ciencias de la vida, la física, la química, la justicia, las ciencias de la tierra, la ciencia de los materiales y la producción industrial. Sólo en el campo de las ciencias de la tierra, incluye cristalografía, mineralogía, depósitos minerales, sedimentología, geoquímica, gemología, microfósiles, astrogeología, geología de petróleo y gas, geología de ingeniería y geología estructural.
Aunque la microscopía electrónica de barrido es una recién llegada a la familia de los microscopios, su velocidad de desarrollo es muy rápida debido a sus numerosas ventajas.
El instrumento tiene una alta resolución y puede observar detalles de aproximadamente 6 nm en la superficie de la muestra a través de imágenes de electrones secundarios. Utilizando un cañón de electrones LaB6, se puede mejorar aún más hasta los 3 nm.
El instrumento tiene una amplia gama de cambios de aumento y se puede ajustar continuamente. Por lo tanto, se pueden seleccionar diferentes tamaños de campos de visión para la observación según sea necesario, y también se pueden obtener imágenes claras con alto brillo que son difíciles de lograr con microscopía electrónica de transmisión general con un gran aumento.
La profundidad de campo y el campo de visión de la muestra son grandes y la imagen es rica en sentido tridimensional. Puede observar directamente superficies rugosas con grandes ondulaciones e imágenes de fracturas metálicas desiguales de la muestra, dando a las personas la sensación de estar presentes en el mundo microscópico.
La preparación de las 4 muestras es sencilla. Siempre que las muestras en bloque o en polvo estén ligeramente tratadas o no, se pueden observar directamente bajo un microscopio electrónico de barrido, que se acerca más al estado natural de la sustancia.
5. La calidad de la imagen se puede controlar y mejorar eficazmente mediante métodos electrónicos, como el mantenimiento automático del brillo y el contraste, la corrección del ángulo de inclinación de la muestra, la rotación de la imagen o la mejora de la tolerancia al contraste de la imagen mediante la modulación Y, así como el brillo y la oscuridad moderados en varias partes de la imagen. Al utilizar un dispositivo de doble aumento o un selector de imágenes, se pueden observar simultáneamente imágenes con diferentes aumentos en la pantalla fluorescente.
6 puede ser objeto de un análisis exhaustivo. Instale un espectrómetro de rayos X de dispersión de longitud de onda (WDX) o un espectrómetro de rayos X de dispersión de energía (EDX) para que pueda funcionar como una sonda de electrones y detectar electrones reflejados, rayos X, catodoluminiscencia, electrones transmitidos, electrones Auger, etc. emitidos. por la muestra. La ampliación de la aplicación de la microscopía electrónica de barrido a diversos métodos de análisis microscópicos y de microáreas ha demostrado la multifuncionalidad de la microscopía electrónica de barrido. Además, también es posible analizar las microáreas seleccionadas de la muestra mientras se observa la imagen morfológica; Al instalar el accesorio portamuestras de semiconductores, las uniones PN y los microdefectos en transistores o circuitos integrados se pueden observar directamente a través de un amplificador de imágenes de fuerza electromotriz. Debido a la implementación del control automático y semiautomático por computadora electrónica para muchas sondas electrónicas de microscopios electrónicos de barrido, la velocidad del análisis cuantitativo ha mejorado enormemente.
