¿Cómo utilizar un multímetro como herramienta de prueba para probar circuitos integrados?
El reemplazo del circuito integrado es fácil, pero el desmontaje es problemático. Antes del desmontaje, debe determinar con precisión si el circuito integrado está realmente dañado y el alcance del daño, y evitar el desmontaje a ciegas. La medición de resistencia CC, voltaje, voltaje CA y corriente total son cuatro métodos de detección para la detección en línea de circuitos integrados utilizando un multímetro.
(1) Detección no en línea:
Este método se realiza cuando el IC no está soldado al circuito. Generalmente, se puede usar un multímetro para medir los valores de resistencia directa e inversa entre cada pin correspondiente al pin de tierra y compararlo con el IC intacto.
(2) Detección en línea:
Este es un método de detección que utiliza un multímetro para detectar la resistencia de CC de cada pin del IC en línea (el IC está en el circuito), el voltaje de CA y CC a tierra y la corriente operativa total. Este método supera las limitaciones del método de prueba de sustitución, que requiere circuitos integrados reemplazables y el problema de desmontarlos. Es el método más utilizado y práctico para probar circuitos integrados.
①Método de detección de resistencia de CC en línea: este es un método que utiliza un bloque de ohmios multímetro para medir directamente los valores de resistencia de CC directa e inversa de cada pin del IC y los componentes periféricos en la placa de circuito, y los compara con los datos normales para encontrar y determinar la falla. Preste atención a los siguientes tres puntos al medir:
a. Desconecte la fuente de alimentación antes de medir para evitar dañar el medidor y los componentes durante la prueba.
b. La tensión interna de la barrera eléctrica del multímetro no debe ser superior a 6 V. Lo mejor es utilizar el rango R×100 o R×1 K para el rango de medición.
C. Al medir los parámetros de los pines del IC, preste atención a las condiciones de medición, como el modelo bajo prueba, la posición del brazo deslizante del potenciómetro relacionado con el IC, etc., y también considere la calidad de los componentes del circuito periférico.
② Método de medición del voltaje de trabajo de CC: este es un método para medir el voltaje de suministro de CC y el voltaje de trabajo de los componentes periféricos con un bloque de voltaje de CC multímetro cuando está encendido; Detecte el valor de voltaje CC de cada pin del IC a tierra y compárelo con el voltaje normal. Compare los valores para comprimir el alcance de la falla y descubrir los componentes dañados. Preste atención a los siguientes ocho puntos al medir:
a. El multímetro debe tener una resistencia interna lo suficientemente grande, al menos 10 veces mayor que la resistencia del circuito que se está midiendo, para evitar causar grandes errores de medición.
b. Por lo general, gire cada potenciómetro a la posición media. Si se trata de un televisor, la fuente de señal debe utilizar un generador de señal de barra de color estándar.
C. Se deben tomar medidas antideslizantes para los cables o sondas de prueba. Cualquier cortocircuito instantáneo puede dañar fácilmente el CI. Se puede utilizar el siguiente método para evitar que el cable de prueba se deslice: tome un trozo de núcleo de válvula de bicicleta, colóquelo en la punta del cable de prueba y extienda la punta del cable de prueba aproximadamente 0.5 mm. Esto no solo puede hacer que la punta del cable de prueba entre bien en contacto con el punto probado, sino que también puede prevenir eficazmente el deslizamiento, incluso si no habrá cortocircuito incluso si golpea puntos adyacentes.
d. Cuando el voltaje medido de un determinado pin no coincide con el valor normal, la calidad del IC debe juzgarse analizando si el voltaje del pin tiene algún impacto significativo en el funcionamiento normal del IC y los cambios correspondientes en los voltajes de otros pines. .
mi. El voltaje del pin IC se verá afectado por los componentes periféricos. Cuando los componentes periféricos tienen fugas, cortocircuito, circuito abierto o cambio de valor, o el circuito periférico está conectado a un potenciómetro con resistencia variable, la posición del brazo deslizante del potenciómetro cambiará, lo que provocará que cambie el voltaje del pin.
F. Si el voltaje de cada pin del IC es normal, el IC generalmente se considera normal; Si el voltaje de algunos pines del IC es anormal, debe comenzar desde el punto donde el voltaje se desvía más del valor normal y verificar si los componentes periféricos están defectuosos. Si no hay ningún fallo, es probable que el CI esté dañado.
gramo. Para dispositivos receptores dinámicos, como televisores, el voltaje de cada pin del IC es diferente cuando hay señal o no. Si se descubre que el voltaje del pin no debe cambiar pero cambia mucho, y debe cambiar con el tamaño de la señal y la posición del componente ajustable pero no cambia, se puede determinar que el IC está dañado.
h. Para dispositivos con múltiples modos de trabajo, como grabadoras de video, los voltajes de cada pin del IC también son diferentes en diferentes modos de trabajo.
③ Método de medición del voltaje de trabajo de CA: para captar los cambios en la señal de CA del IC, se puede usar un multímetro con un conector dB para medir aproximadamente el voltaje de trabajo de CA del IC. Al realizar la prueba, coloque el multímetro en la configuración de voltaje de CA e inserte el cable de prueba positivo en el conector dB; para multímetros sin conectores dB, se debe conectar un condensador de bloqueo de CC de {{0}}.1 a 0,5 μF en serie al cable de prueba positivo. Este método es adecuado para circuitos integrados con frecuencias operativas relativamente bajas, como etapas de amplificación de video de TV, circuitos de escaneo de campo, etc. Dado que estos circuitos tienen diferentes frecuencias naturales y diferentes formas de onda, los datos medidos son aproximados y solo pueden usarse como referencia.
④Método de medición de corriente total: este método es un método para juzgar la calidad del IC detectando la corriente total de la línea de alimentación del IC. Dado que la mayoría de los circuitos integrados internos están acoplados directamente, cuando el circuito integrado se daña (como una avería o un circuito abierto de una determinada unión PN), provocará la saturación y el corte de la etapa posterior, lo que provocará que la corriente total cambie. Por lo tanto, la calidad del CI se puede juzgar midiendo la corriente total. También puede medir el voltaje de la resistencia en la ruta de alimentación y calcular el valor de corriente total utilizando la ley de Ohm.
