Cómo adaptarse a diferentes requisitos para la observación de aumento del microscopio estéreo
El microscopio estereoscópico se usa para la inspección tridimensional y la observación de componentes electrónicos, placas de circuitos integrados, herramientas de corte rotativo, imanes, etc. ¿Cómo adaptarse a estos diferentes requisitos en función del hecho de que estos diferentes objetos deben observarse a diferentes magnificaciones? Se pueden usar múltiples aspectos para resolver A a través del rendimiento óptico b. puede elegir la observación de video c. se puede observar a través del rendimiento mecánico d. puede ser iluminado por una fuente de luz
Rendimiento óptico: según los requisitos de observación del objeto medido, se seleccionan diferentes oculares/objetivos para resolver problemas, como un alto aumento y un gran campo de visión. Cuando solo se requiere un alto aumento, se puede lograr reemplazando el ocular de alto aumento y la lente objetivo. Cuando se requiere un gran campo de visión, se puede lograr reemplazando la lente objetivo, reduciendo el ocular o reemplazando el gran campo de ocular.
Observación de video: cuando el aumento óptico es insuficiente, el aumento electrónico se puede usar como compensación. Al observar y querer almacenar y preservar simultáneamente, podemos elegir videos. Hay varios formatos de video: A. Se puede acceder directamente a través de un monitor B. Se puede conectar a una computadora (a través de una tarjeta de adquisición de imágenes CCD digital o CCD analógico) C. Se puede conectar a una cámara digital (diferentes cámaras digitales deben considerar diferentes interfaces y compatibilidad con el microscopio)
Rendimiento mecánico: al encontrar soldadura, ensamblaje, inspección de grandes placas de circuito integrado y requisitos para la distancia de trabajo, podemos resolverlas a través del rendimiento mecánico, como los soportes universales, los soportes de balancines, las grandes plataformas móviles, etc. Con sus características de rendimiento, podemos completar directamente nuestro trabajo de detección mediante el uso de brackets y plataformas cuando detectan grandes objetos. No es necesario mover nuestro objeto probado. Por ejemplo, la Compañía A tenía dificultades para mover la placa de circuito debido a su gran tamaño y la necesidad de una ligera observación de inclinación. Por lo tanto, el trabajo de inspección solo podría completarse a través del movimiento mecánico, y el uso de soportes universales podría cumplir con estos requisitos de uso simultáneamente.
Iluminación de la fuente de luz: la iluminación de la fuente de luz juega un papel crucial en si el objeto medido se puede ver claramente. Al seleccionar la iluminación, es necesario elegir la herramienta de iluminación y el método de iluminación correspondiente basado en las características del objeto medido en sí (considerando sus requisitos para la luz, como fuerte/débil/reflectante, etc.). Si la transmisión incorporada y la iluminación oblicua de un estereomicroscopio típico no pueden satisfacer sus necesidades de iluminación, también hemos preparado luces de fuente de luz fría LED, luces circulares, luces de fuente de luz fría de fibra única/doble, etc. para usted.
