Cómo adaptar la observación con aumento del microscopio estereoscópico a diferentes requisitos
Los microscopios estereoscópicos se utilizan para la inspección y observación tridimensional de piezas electrónicas, placas de circuitos integrados, herramientas giratorias, imanes, etc. Dado que estos diferentes objetos medidos deben observarse con diferentes aumentos, cómo adaptarse a estos diferentes requisitos. ? Se puede solucionar de muchas maneras a. Se puede resolver mediante propiedades ópticas b. Se puede seleccionar la observación por vídeo c. Se puede resolver mediante propiedades mecánicas d. Puede ser iluminado por una fuente de luz.
Rendimiento óptico: De acuerdo con los requisitos de observación del objeto medido, problemas como un gran aumento y un gran campo de visión se pueden resolver seleccionando diferentes oculares/objetivos. Cuando sólo se requiere un gran aumento, puede reemplazar el ocular de gran aumento y la lente del objetivo. Cuando necesite un campo de visión amplio, puede cumplir con el requisito cambiando la lente del objetivo, reduciendo el tamaño del ocular o cambiando a un ocular de campo de visión amplio.
Observación por vídeo: cuando el aumento óptico no es suficiente, se puede utilizar un aumento electrónico para compensar. Al observar al mismo tiempo y querer poder almacenar y retener, podemos elegir vídeo. Hay muchos métodos de vídeo: A. Puede ser directamente a través del monitor. B. Se puede conectar a una computadora (a través de una tarjeta de captura de imágenes CCD digital o CCD analógica). C. Se puede conectar a una cámara digital (diferentes cámaras digitales deben considerar diferentes interfaces y compatibilidad con el microscopio).
Propiedades mecánicas: cuando encontramos algunas áreas de soldadura, ensamblaje, inspección de grandes placas de circuito integrado y requisitos de distancia de trabajo, podemos resolver el problema a través de propiedades mecánicas, como soportes universales, soportes de balancines, grandes plataformas móviles, etc. Con sus características de rendimiento. , al detectar objetos grandes, nuestro trabajo de inspección se puede completar directamente a través del soporte y la plataforma. No es necesario mover nuestro objeto medido. Por ejemplo: Empresa A, debido a que la placa de circuito a inspeccionar es relativamente grande y requiere una observación sutil de la inclinación, es difícil mover la placa de circuito y el trabajo de inspección solo se puede completar mediante movimiento mecánico. El uso de un soporte universal puede cumplir estos requisitos de uso al mismo tiempo.
Iluminación de fuente de luz: La iluminación de fuente de luz juega un papel vital para que el objeto que se mide se pueda ver con claridad. A la hora de elegir la iluminación, se debe basar en las características del objeto que se mide (se deben tener en cuenta sus requisitos de luz, fuerte, débil, reflectante, etc.)) para seleccionar las herramientas y métodos de iluminación correspondientes. Si la transmisión y la iluminación oblicua que vienen con los microscopios estereoscópicos generales no pueden satisfacer sus necesidades de iluminación, también hemos preparado lámparas LED con fuente de luz fría, luces circulares, lámparas con fuente de luz fría de fibra óptica simple/doble, etc.
