Cómo la observación múltiple del microscopio estereoscópico se adapta a diferentes requisitos
Los microscopios estereoscópicos se utilizan para la inspección tridimensional y la observación de piezas electrónicas\placas de circuitos integrados\herramientas de rotor\imanes, etc. Basado en el hecho de que estos diferentes objetos medidos deben observarse con diferentes aumentos, cómo adaptarse a estos diferentes requisitos ? Se puede resolver de muchas maneras: a. a través del rendimiento óptico b. observación de video opcional c. a través de las propiedades mecánicas d. a través de la iluminación de la fuente de luz
Rendimiento óptico: de acuerdo con los requisitos de observación del objeto medido, el problema de la gran ampliación y el gran campo de visión se puede resolver seleccionando diferentes oculares/lentes del objetivo. Cuando solo se requiere un gran aumento, el ocular de gran aumento y la lente del objetivo pueden reemplazarse, y cuando se requiere un gran campo de visión, la lente del objetivo puede reemplazarse y el ocular puede reducirse para cumplir con los requisitos.
Observación de video: cuando el aumento óptico no es suficiente, el aumento electrónico se puede usar para compensar. Mientras miramos y queremos poder almacenar y guardar, podemos elegir video. Hay muchas formas de video: A. Puede ser directamente a través del monitor B. Puede conectarse a la computadora (a través de una tarjeta de adquisición de imágenes CCD digital o CCD analógica) C Puede conectarse a una cámara digital (diferentes cámaras digitales deben considerar diferentes interfaces y a juego con el microscopio)
Propiedades mecánicas: cuando nos encontramos con soldaduras, ensamblajes, grandes campos de inspección de placas de circuitos integrados y requisitos de distancia de trabajo, podemos resolverlos a través de propiedades mecánicas, como soportes universales, soportes basculantes, grandes plataformas móviles, etc. Con sus características de rendimiento, cuando Al detectar objetos grandes, podemos completar nuestro trabajo de detección directamente a través del soporte y la plataforma. No es necesario mover nuestro objeto medido. Por ejemplo: A la empresa ABB le resulta difícil mover la placa de circuito porque la placa de circuito que se va a probar es relativamente grande y debe observarse con una ligera inclinación, por lo que el trabajo de detección solo puede completarse mediante movimiento mecánico. La función del soporte universal puede cumplir estos requisitos al mismo tiempo.
Iluminación de la fuente de luz: la iluminación de la fuente de luz juega un papel vital en si el objeto medido se puede ver claramente. Al elegir la iluminación, debe basarse en las características del propio objeto medido (considerando sus requisitos de luz, fuerte, débil, reflectante, etc.) para seleccionar la herramienta de iluminación y el método de iluminación correspondientes.
