Introducción a la microscopía electrónica de transmisión
Microscopio electrónico de transmisión (TEM para abreviar), se puede ver en el microscopio óptico, no se puede ver claramente en una microestructura de menos de 0.2 um, estas estructuras se denominan estructura submicroscópica o ultramicroestructura. Para ver estas estructuras con claridad, es necesario seleccionar una fuente de luz de longitud de onda más corta para mejorar la resolución del microscopio.
Introducción
El principio de obtención de imágenes del microscopio electrónico y del microscopio óptico es básicamente el mismo, la diferencia es que el primero utiliza un haz de electrones como fuente de luz y un campo electromagnético como lente. Además, debido a la débil penetración del haz de electrones, la muestra utilizada para la microscopía electrónica debe convertirse en una sección ultrafina con un espesor de aproximadamente 50 nm. Estos cortes deben realizarse con un ultramicrótomo. El aumento del microscopio electrónico hasta casi un millón de veces, mediante el sistema de iluminación, el sistema de imágenes, el sistema de vacío, el sistema de grabación y el sistema de suministro de energía, consta de cinco partes, si se subdivide: la parte principal de la lente electrónica y el sistema de grabación de imágenes, colocadas en un vacío mediante el cañón de electrones, el espejo de condensación, la cámara de objetos, el objetivo, el espejo difractor, el espejo intermedio, el espejo de proyección, la pantalla fluorescente y la cámara.
Un microscopio electrónico es un microscopio que utiliza electrones para visualizar el interior o la superficie de un objeto. La longitud de onda de los electrones de alta velocidad es más corta que la de la luz visible (dualidad onda-partícula) y la resolución de un microscopio está limitada por la longitud de onda que utiliza, por lo que la resolución teórica de un microscopio electrónico (aproximadamente 0 ,1 nanómetros) es mucho mayor que el de un microscopio óptico (unos 200 nanómetros).
Un microscopio electrónico de transmisión (Transmissionelectronmicroscope, abreviado TEM), o microscopio electrónico de transmisión para abreviar [1], proyecta un haz de electrones acelerado y agregado sobre una muestra muy delgada, donde los electrones cambian de dirección al chocar con los átomos de la muestra, lo que resulta en dispersión de ángulo estérico. La magnitud del ángulo de dispersión está relacionada con la densidad y el espesor de la muestra, de modo que se pueden formar diferentes imágenes claras y oscuras, y las imágenes se mostrarán en dispositivos de imágenes (por ejemplo, pantallas de fósforo, películas y conjuntos fotoacoplados) después aumento y enfoque.
Debido a la muy corta longitud de onda de los electrones de De Broglie, la resolución de la microscopía electrónica de transmisión es mucho mayor que la de la microscopía óptica, alcanzando {{0}}.1 a 0,2 nm, con un aumento de decenas de miles a millones de veces. Como resultado, el uso de un microscopio electrónico de transmisión se puede utilizar para observar la estructura fina de una muestra, o incluso la estructura de una sola fila de átomos, decenas de miles de veces más pequeña que la estructura más pequeña que se puede observar con un microscopio óptico. El TEM es un método analítico importante en muchos campos de la ciencia relacionados con la física y la biología neutrales, como la investigación del cáncer, la virología, la ciencia de materiales, así como la nanotecnología, la investigación de semiconductores, etc.
A menores aumentos, el contraste de las imágenes TEM se debe principalmente a los diferentes espesores y composiciones de los materiales, lo que da como resultado una diferente absorción de electrones. Cuando el aumento es alto, los efectos de fluctuación complejos causan diferencias en el brillo de la imagen y, por lo tanto, se necesita experiencia para analizar la imagen resultante. Al utilizar los diferentes modos del TEM, es posible analizar la muestra por sus propiedades químicas, orientación del cristal, estructura electrónica, el cambio de fase electrónico causado por la muestra y la absorción electrónica habitual en la muestra.
así como la habitual absorción de electrones en la muestra.
El primer TEM fue desarrollado por Max Knorr y Ernst Ruska en 1931, este grupo de investigación desarrolló el primer TEM con una resolución superior a la de la luz visible en 1933, mientras que el primer TEM comercial se desarrolló en 1939.
