Diferencias en microscopía electrónica y microscopía metalográfica.
Principios de la microscopía electrónica de barrido.
El microscopio electrónico de barrido, abreviado como SEM, es un sistema complejo; Tecnología óptica electrónica concentrada, tecnología de vacío, estructura mecánica fina y tecnología moderna de control por computadora. La microscopía electrónica de barrido es el proceso de combinar electrones emitidos por un cañón de electrones bajo alta presión acelerada en un pequeño haz de electrones a través de una lente electromagnética de múltiples etapas. Escanee la superficie de la muestra para generar información diversa y analice la superficie de la muestra recibiendo, amplificando y mostrando imágenes de esta información. La interacción entre el electrón incidente y la muestra produce el tipo de información que se muestra en la Figura 1. La distribución de intensidad bidimensional de esta información varía con las características de la superficie de la muestra (como la morfología de la superficie, la composición, la orientación del cristal, las propiedades electromagnéticas, etc.). Es el proceso de convertir secuencial y proporcionalmente la información recopilada por varios detectores en señales de video y luego transmitirlas a tubos de imagen escaneados sincrónicamente y modular su brillo para obtener una imagen de escaneo que refleje la condición de la superficie de la muestra. Si la señal recibida por el detector se digitaliza y se convierte en una señal digital, la computadora puede procesarla y almacenarla aún más. La microscopía electrónica de barrido se utiliza principalmente para observar muestras de bloques gruesos con grandes diferencias de altura y rugosidad, resaltando así el efecto de profundidad de campo en el diseño. Generalmente se utiliza para analizar fracturas y superficies naturales que no han sido tratadas artificialmente.
Microscopio electrónico y microscopio metalográfico.
1, diferentes fuentes de luz: un microscopio metalográfico utiliza luz visible como fuente de luz, mientras que un microscopio electrónico de barrido utiliza un haz de electrones como fuente de luz para obtener imágenes.
2. El principio es diferente: un microscopio metalográfico utiliza principios de imágenes ópticas geométricas para obtener imágenes, mientras que un microscopio electrónico de barrido utiliza haces de electrones de alta energía para bombardear la superficie de la muestra, estimulando varias señales físicas en la superficie. Luego, se utilizan diferentes detectores de señales para recibir señales físicas y convertirlas en información de imagen.
3, diferentes resoluciones: debido a la interferencia y difracción de la luz, la resolución de un microscopio metalográfico solo puede limitarse a 0.2-0.5um. Debido al uso de un haz de electrones como fuente de luz, la microscopía electrónica de barrido puede alcanzar una resolución de entre 1-3nm. Por lo tanto, la observación de la microestructura de la microscopía metalográfica pertenece al análisis a microescala, mientras que la observación de la microestructura de la microscopía electrónica de barrido pertenece al análisis a nanoescala.
4, diferente profundidad de campo: generalmente, la profundidad de campo de un microscopio metalográfico está entre 2-3um, por lo que tiene requisitos extremadamente altos para la suavidad de la superficie de la muestra, por lo que su proceso de preparación de la muestra es relativamente complejo. La microscopía electrónica de barrido, por otro lado, tiene una gran profundidad de campo, un amplio campo de visión y un efecto de imagen tridimensional. Puede observar directamente las estructuras finas de varias superficies irregulares de muestras.
