Enfoque profundo para microscopía de inmersión y STED
El enfoque profundo de los objetivos de NA alta produce una PSF (función de dispersión de puntos) más pequeña, que es fundamental para los sistemas de microscopía de alta resolución. En muchos otros sistemas de microscopio, como los microscopios de inmersión, se usa un cubreobjetos para separar el líquido de inmersión de la muestra. Esto puede distorsionar la PSF en el plano focal. Demostramos que el PSF asimétrico se alarga aún más detrás del cubreobjetos. Además, la microscopía STED (agotamiento de emisión estimulada), que se usa ampliamente con una resolución de decenas de nanómetros, consume PSF anulares. Siguiendo el método propuesto por P.Török y PRT Monro, modelamos el enfoque profundo de un haz de Gauss-Lagler. Muestra cómo generar un PSF toroidal.
Enfoque profundo con microscopios de inmersión de NA alta
En VirtualLab Fusion, el efecto de la interfaz del cubreobjetos en el PSF se puede analizar directamente. La deformación focal detrás del cubreobjetos se demuestra y analiza de forma completamente vectorizada.
Enfoque de haces de Gauss-Laguerre en microscopía STED
Los resultados muestran que el enfoque del haz Gaussiano-Laguerre de orden superior produce una PSF en forma de anillo. El tamaño del PSF anular depende, entre otras variables, del orden específico del haz.
