Microscopía de fuerza atómica combinada con técnica de microscopio óptico invertido.
La tecnología de acoplamiento de microscopio óptico invertido FlexAFM está disponible para todos los clientes interesados en la capacidad de combinar microscopía óptica y microscopía de fuerza atómica. El sistema consta de una platina de muestra de microscopio óptico invertido FlexAFM universal, un adaptador de muestra específico para diferentes microscopios (p. ej., Zeiss u Olympus) y una óptica de corrección de iluminación FlexAFM.
Las principales características de la Microscopía de Fuerza Atómica combinada con la técnica de Microscopía Óptica Invertida son:
- Adaptadores de conexión para microscopios de las series Zeiss Axiovert/AxioObserver, Olympus IX2, Nikon Eclipse Ti y Leica DMI. Otros modelos de microscopios ópticos invertidos se pueden personalizar para adaptarse al modelo.
-Funcionamiento intuitivo debido a que el campo de visión óptico del AFI y del microscopio óptico invertido tienen la misma orientación.
-La alineación del brazo voladizo en el campo de visión óptico se logra mediante el movimiento independiente del cabezal de escaneo del AFM en las direcciones X e Y, con el eje de escaneo del AFM y el eje de la imagen óptica teniendo una distancia paralela de 1 mm.
-La tecnología de chip de alineación elimina la necesidad de realizar una nueva alineación del brazo voladizo en la imagen óptica después de reemplazar el brazo voladizo.
-El posicionamiento de la muestra tiene 12 mm de recorrido en las direcciones X e Y.
- Los portamuestras se pueden adaptar a hojas portamicroscopios y placas de Petri.
-Posibilidad de utilizar lentes de alta apertura numérica en combinación con placas de Petri con fondo de cubreobjetos.
Unidad de microscopio óptico invertido: El AFM easyScan 2FlexAFM está integrado en un microscopio óptico invertido Zeiss mientras descansa sobre una platina de amortiguación activa de vibraciones Accurion.
