Estructura del sistema de microscopía de fuerza atómica (AFM)
1. Sección de detección de fuerza:
En el sistema de microscopía de fuerza atómica (AFM), la fuerza a detectar es la fuerza de Van der Waals entre átomos. Entonces, en este sistema, se utiliza un voladizo para detectar los cambios de fuerza entre los átomos. Este micro voladizo tiene ciertas especificaciones, como longitud, ancho, coeficiente de elasticidad y forma de la punta de la aguja, y la selección de estas especificaciones se basa en las características de la muestra y los diferentes modos de operación, y se seleccionan diferentes tipos de sondas.
2 Sección de detección de posición:
En el sistema de microscopía de fuerza atómica (AFM), cuando hay interacción entre la punta de la aguja y la muestra, el voladizo oscilará. Por lo tanto, cuando el láser se irradia al final del voladizo, la posición de la luz reflejada también cambiará debido a la oscilación del voladizo, lo que resultará en la generación de compensación. En todo el sistema, el detector de posición del punto láser se utiliza para registrar la compensación y convertirla en una señal eléctrica para que el controlador SPM la procese.
3 sistema de retroalimentación:
En el sistema de microscopio de fuerza atómica (AFM), después de que un detector láser capta la señal, se utiliza como señal de retroalimentación en el sistema de retroalimentación como señal de ajuste interno y hace que el escáner, generalmente hecho de tubos cerámicos piezoeléctricos, se mueva. apropiadamente para mantener la fuerza adecuada entre la muestra y la punta de la aguja.
La microscopía de fuerza atómica (AFM) combina las tres partes anteriores para presentar las características de la superficie de la muestra: en el sistema AFM, se utiliza un pequeño voladizo para detectar la interacción entre la punta de la aguja y la muestra. Esta fuerza hará que el voladizo oscile y luego se utiliza el láser para irradiar el extremo del voladizo. Cuando se forma la oscilación, la posición de la luz reflejada cambiará, provocando un desplazamiento. En este momento, el detector láser registrará esta compensación y también proporcionará la señal al sistema de retroalimentación en este momento para facilitar el ajuste apropiado del sistema. Finalmente se presentarán en forma de imagen las características superficiales de la muestra.
