Aplicaciones y características de la Microscopía Electrónica de Transmisión.
La microscopía electrónica de transmisión (TEM) es un microscopio de alta resolución que se utiliza para observar la estructura interna de las muestras. Utiliza un haz de electrones para penetrar la muestra y formar una imagen proyectada, que luego se interpreta y analiza para revelar la microestructura de la muestra.
1. Fuente electrónica
TEM utiliza un haz de electrones en lugar de un haz de luz. El microscopio electrónico de transmisión de la serie Talos equipado por Jifeng Electronic MA Laboratory utiliza un cañón de electrones de brillo ultra alto, mientras que el microscopio electrónico de transmisión de aberración esférica HF5000 utiliza un cañón de electrones de campo frío.
2. Sistema de vacío
Para evitar la interacción entre el haz de electrones y el gas antes de atravesar la muestra, todo el microscopio debe mantenerse en condiciones de alto vacío.
3. Muestra de transmisión
La muestra debe ser transparente, es decir, que el haz de electrones pueda atravesarla, interactuar con ella y formar una imagen proyectada. Normalmente, el espesor de la muestra oscila entre nanómetros y submicras. Jifeng Electronics está equipado con docenas de FIB de la serie Helios 5 para preparar muestras TEM ultrafinas de alta calidad.
4. Sistema de transmisión electrónica
El haz de electrones se enfoca a través de un sistema de transmisión. Estas lentes son similares a las lentes de los microscopios ópticos, pero debido a la longitud de onda mucho más corta de los electrones en comparación con las ondas de luz, los requisitos de diseño y fabricación de las lentes son mayores.
5. Plano de imagen
Después de atravesar la muestra, el haz de electrones entra en un plano de imagen. En este plano, la información del haz de electrones se convierte en una imagen y es capturada por el detector.
6. detector
Los detectores más comunes son las pantallas fluorescentes, las cámaras CCD (dispositivo de carga acoplada) o las cámaras CMOS (dispositivo semiconductor complementario de óxido metálico). Cuando un haz de electrones interactúa con una pantalla fluorescente en el plano de la imagen, se genera luz visible, formando una imagen proyectada de la muestra, que se utiliza comúnmente para localizar la muestra. Debido a la necesidad de utilizar pantallas fluorescentes en un ambiente de habitación oscura, que no es fácil de usar para la operación del usuario, los fabricantes actuales instalarán una cámara sobre el costado de la pantalla fluorescente, lo que permitirá a los operadores de TEM observar la pantalla en una zona brillante. entorno para buscar muestras, inclinar el eje de la correa y otras operaciones. Esta mejora discreta es la base para lograr la separación entre humanos y máquinas.
7. Formación de imágenes
Cuando el haz de electrones pasa a través de la muestra, interactúa con los átomos y la estructura cristalina dentro de la muestra, dispersándose y absorbiendo. En base a estas interacciones, la intensidad del haz de electrones formará una imagen en el plano de la imagen. Todas estas imágenes son imágenes de proyección bidimensionales, pero la estructura interna de la muestra suele ser tridimensional, por lo que se debe prestar especial atención a esto al analizar la información detallada dentro de la muestra.
8. Análisis e interpretación
Al observar y analizar las imágenes, los investigadores pueden comprender la estructura cristalina de la muestra, los parámetros de la red, el defecto cristalográfico, la disposición atómica y otra información de la microestructura. Ji Feng cuenta con un equipo profesional de análisis de materiales que puede brindar a los clientes soluciones completas de análisis de procesos e informes profesionales de análisis de materiales.
