Una introducción a las características de rendimiento del microscopio electrónico de barrido
Hay varios tipos de microscopios electrónicos de barrido, y los diferentes tipos de microscopios electrónicos de barrido tienen diferentes rendimientos. Según el tipo de cañón de electrones, se puede dividir en tres tipos: cañón de electrones de emisión de campo, cañón de alambre de tungsteno y hexaboruro de lantano [5]. Entre ellos, la microscopía electrónica de barrido de emisión de campo se puede dividir en microscopía electrónica de barrido de emisión de campo frío y microscopía electrónica de barrido de emisión de campo térmico de acuerdo con el rendimiento de la fuente de luz. El microscopio electrónico de barrido de emisión de campo frío requiere condiciones de alto vacío, la corriente del haz es inestable, el emisor tiene una vida útil corta y la punta de la aguja debe limpiarse regularmente, lo que se limita a la observación de una sola imagen, y el rango de aplicación es limitado; mientras que el microscopio electrónico de barrido de emisión de campo térmico no solo es continuo, puede funcionar durante mucho tiempo y también se puede combinar con una variedad de accesorios para lograr un análisis completo. En el campo de la geología, no solo necesitamos observar la morfología preliminar de la muestra, sino que también necesitamos analizar otras propiedades de la muestra en combinación con el analizador, por lo que el microscopio electrónico de barrido de emisión de campo térmico se usa más ampliamente.
El microscopio electrónico de barrido (SEM) es un instrumento de gran precisión para el análisis de morfología de microdominios de alta resolución. Tiene las características de gran profundidad de campo, alta resolución, imágenes intuitivas, fuerte efecto estereoscópico, amplio rango de aumento y la muestra a analizar se puede girar e inclinar en un espacio tridimensional. Además, tiene las ventajas de una amplia variedad de muestras medibles, casi ningún daño ni contaminación de la muestra original, y la adquisición simultánea de morfología, estructura, composición e información cristalográfica. En la actualidad, la microscopía electrónica de barrido se ha utilizado ampliamente en la investigación microscópica en los campos de las ciencias de la vida, la física, la química, la justicia, las ciencias de la tierra, la ciencia de los materiales y la producción industrial. , Sedimentología, Geoquímica, Gemología, Micropaleontología, Astrogeología, Geología de Petróleo y Gas, Ingeniería Geológica y Geología Estructural, etc.
Aunque el microscopio electrónico de barrido es una estrella en ascenso en la familia de microscopios, debido a sus muchas ventajas, la velocidad de desarrollo es muy rápida.
1. La resolución del instrumento es relativamente alta, y los detalles de aproximadamente 6 nm en la superficie de la muestra se pueden observar a través de la imagen de electrones secundarios, que se puede mejorar aún más a 3 nm mediante el uso de un cañón de electrones LaB6.
2 El aumento del instrumento tiene un amplio rango y se puede ajustar continuamente. Por lo tanto, se pueden seleccionar diferentes campos de visión para la observación según las necesidades y, al mismo tiempo, también se pueden obtener imágenes claras con alto brillo, que son difíciles de lograr con los microscopios electrónicos de transmisión generales, con gran aumento.
3 La observación de la muestra tiene una gran profundidad de campo, un gran campo de visión y la imagen está llena de tridimensionalidad. Puede observar directamente la superficie rugosa con grandes ondulaciones y la imagen de fractura de metal desigual de la muestra, lo que hace que las personas se sientan como si estuvieran en el mundo microscópico.
4. La preparación de la muestra es sencilla. Siempre que la muestra de bloque o polvo se procese ligeramente o no se procese, se puede colocar directamente en el microscopio electrónico de barrido para su observación, por lo que está más cerca del estado natural del material.
5 Puede controlar y mejorar de manera efectiva la calidad de la imagen a través de métodos electrónicos, como el mantenimiento automático del brillo y el contraste, la corrección del ángulo de inclinación de la muestra, la rotación de la imagen o mejorar la tolerancia del contraste de la imagen a través de la modulación Y, y el brillo y la oscuridad de varias partes. de la imagen Moderado. Usando un dispositivo de doble aumento o un selector de imágenes, se pueden observar imágenes con diferentes aumentos en la pantalla fluorescente al mismo tiempo.
6 para un análisis exhaustivo. Instale un espectrómetro de rayos X de dispersión de longitud de onda (WDX) o un espectrómetro de rayos X de dispersión de energía (EDX) para que tenga la función de una sonda de electrones y también pueda detectar electrones reflejados, rayos X, catodofluorescencia, electrones transmitidos, electrónica Auger etc. Extender la aplicación de la microscopía electrónica de barrido a varios métodos de análisis microscópicos y de microáreas muestra la versatilidad de la microscopía electrónica de barrido. Además, también puede analizar la microrregión opcional de la muestra mientras observa la imagen topográfica; Instale el accesorio de soporte de muestras de semiconductores y observe directamente la unión PN y los defectos microscópicos en el transistor o circuito integrado a través del amplificador de imagen de fuerza electromotriz. Dado que muchas sondas electrónicas de microscopio electrónico de barrido han realizado un control automático y semiautomático de computadora electrónica, la velocidad del análisis cuantitativo ha mejorado considerablemente.
